EH200显微膜厚仪主要用于镜面基底上的透明、半透明薄膜样品，尤其是具有表面二维单元结构的样品进行显微测量，可得到微区的单层或少数多层薄膜的膜厚，也可以得到薄膜的光学参数（如，折射率n、消光系数k）。此外，也可以用于粗糙表面上膜厚的测量。
EH200-X显微膜厚仪 技术规格书.pdf
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EH200显微膜厚仪主要用于镜面基底上的透明、半透明薄膜样品，尤其是具有表面二维单元结构的样品进行显微测量，可得到微区的单层或少数多层薄膜的膜厚，也可以得到薄膜的光学参数（如，折射率n、消光系数k）。此外，也可以用于粗糙表面上膜厚的测量。