光谱椭偏仪ES01
· ES01系列是ELLITOP针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度快速摄谱型光谱椭偏仪，波长范围覆盖紫外、可见到红外。 ES01光谱椭偏仪基于高灵敏度光谱探测单元和光谱椭偏仪分析软件，用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数（如，厚度）和物理参数（如，折射率n、消光系数k，或介电函数ε1和ε2），也可用于测量块状材料的光学性质。
波片检测仪EW1000
EW1000 是一款高精度、宽光谱专用波片检测仪。 EW1000 采用国际先进的椭偏光学调制测量原理、专门 用于波片的全面质量检测，如相位延迟差、快慢轴、透射 率测量。 EW1000 适用于波片生产过程中的质量监控、质量终检、 以及新型波片研发。
激光椭偏仪EMPro
EMPro系列是针对高端研发和质量控制领域推出的极致型多入射角激光椭偏仪。 EMPro系列可在单入射角度或多入射角度下对样品进行准确测量。可用于测量单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k；也可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k；亦可用于实时测量纳米薄膜动态生长中膜层的厚度、折射率n和消光系数k。多入射角度设计实现了纳米薄膜的绝对厚度测量。
光伏专用激光椭偏仪EMPro-PV
EMPro-PV是ELLITOP针对光伏太阳能电池高端研发和质量控制领域推出的专用型多入射角激光椭偏仪。 EMPro-PV用于测量绒面单晶硅或多晶硅太阳电池表面减反膜镀层的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可测量光滑平面材料上的单层或多层纳米薄膜的膜层厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系数k。 EMPro-PV融合多项量拓科技专利技术，采用单多晶一体化样品台技术，兼容测量单晶和多晶太阳电池样品，并实现二者的瞬间轻松转换。一键式多线程操作软件，使得仪器操作简单安全。
全自动膜厚检测仪ET-S8100A
全自动膜厚检测仪ET-S8100A是我们公司的全自动膜厚检测仪，可以实现无破坏且高速的检测样品，能准确的确定制造工艺中的各种薄膜参数和变化，包括了多层薄膜结构
膜厚仪EH100-X
EH100-X膜厚仪是应用于工业和科研领域中薄膜厚度常规测量的经济型解决方案，仪器一键操作极其简单，可测量从几纳米到数百微米厚的透明或半透明薄膜，一次测量1秒内完成。 EH100-X膜厚仪基于白光干涉反射光谱的测量原理。宽光谱光波0°垂直入射到样品表面，在样品基底和膜层之间发生干涉，反射光波由高灵敏度光谱阵列探测单元接收，采用专用软件对光波的光谱反射率进行分析，得到样品镀层的膜厚信息。进一步，还可以通过分析得到膜层的其它物理信息（如，折射率、消光系数）。 仪器适合于工业和科研中的常规测量，可应用于多种薄膜镀层工艺中，如化学机械抛光、化学气象沉积、物理气相沉积、旋涂成膜工艺等。
红外光谱椭偏仪
ES03A-IR红外光谱椭偏仪集成了高精度、高分辨率的红外傅里叶光谱（FTIR）和高灵敏度的光谱椭偏仪，光谱范围覆盖1.7um到25um（400~5900cm-1）。ES03A-IR红外光谱椭偏仪用于表征复杂膜系的化学、机械、电子、光学性能，可应用于光学镀层、半导体、生物、化学工业，以及材料研究等领域，以及分子振动光谱范围内的有机导体、OLED和聚合物等材料。
广义光谱椭偏仪EGS01
EGS01系列是ELLITOP针对科研和工业环境推出的高精度快速摄谱型广义光谱椭偏仪，波长范围覆盖紫外、可见到红外。 EGS01广义光谱椭偏仪采用宽带超消色差补偿器、利用快速补偿器同步扫描测量的采样模式、基于高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件，用于测量纳米薄膜样品、块状材料和各向异性材料。北京量拓科技有限公司(ELLITOP SCIENTIFIC CO., LTD.)成立于2008年4月，是中国具有影响力的专业椭偏测量整体解决方案提供商。专业致力于椭偏测量的方法研究、技术开发、产品制造和销售，并提供椭偏测试服务和椭偏测量整体解决方案。经过持续的创新发展，产品已应用于计量、工业质检、研究开发等领域，服务于半导体、光伏、光电子、纳米材料、光通讯、遥感等行业。
ELLITOP SCIENTIFIC CO., LTD. was established in April 2008 and is an influential professional provider of overall solutions for ellipsometry measurement in China. We are dedicated to the research, technical development, product manufacturing, and sales of ellipsometry measurement methods, and provide ellipsometry testing services and overall solutions for ellipsometry measurement. Through continuous innovation and development, the product has been applied in fields such as metrology, industrial quality inspection, research and development, serving industries such as semiconductors, photovoltaics, optoelectronics, nanomaterials, optical communication, and remote sensing.
【展会回顾】第25届中国国际光电博览会圆满收官！
【展会邀请函】量拓科技与您相约CIOE中国国际光电博览会！
第二十五届中国国际光电博览会（CIOE中国光博会）将于2024年9月11-13日在深圳国际会展中心举办，诚邀您的莅临！
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