首页
企业介绍
公司介绍
企业文化
发展历程
荣誉资质
产品中心
椭偏仪
膜厚仪
全自动膜厚检测系统
偏振器件检测仪器
偏振光波检测仪器
应力双折射检测
应用案例
平板显示领域
IC纳米行业
LED行业
光伏行业
玻璃盖板行业
技术核心
企业专利
技术优势
测试服务
服务介绍
测试案例
联系我们
首页
企业介绍
公司介绍
企业文化
发展历程
荣誉资质
产品中心
椭偏仪
膜厚仪
全自动膜厚检测系统
偏振器件检测仪器
偏振光波检测仪器
应力双折射检测
应用案例
平板显示领域
IC纳米行业
LED行业
光伏行业
玻璃盖板行业
技术核心
企业专利
技术优势
测试服务
服务介绍
测试案例
联系我们
首页
>
测试案例
测试服务
服务介绍
测试案例
测试案例
透明介电薄膜
Si上170.84nmSi3N4
透明导电薄膜
半导体光刻胶
钙钛矿材料
半导体激光器
砷化镓上103.94nm氮化硅和168.85nm氧化硅
氧化硅
氮化硅
光伏电池
金属薄膜
© 2024 北京量拓科技有限公司 All Rights Reserved.网站资料有的来源于网络,如若侵权可以联系我们
腾云建站仅向商家提供技术服务
首页
电话
留言
回到顶部