· ES01系列是ELLITOP针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度快速摄谱型光谱椭偏仪,波长范围覆盖紫外、可见到红外。 ES01光谱椭偏仪基于高灵敏度光谱探测单元和光谱椭偏仪分析软件,用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(如,折射率n、消光系数k,或介电函数ε1和ε2),也可用于测量块状材料的光学性质。
波片检测仪EW1000
激光椭偏仪EMPro
光伏专用激光椭偏仪EMPro-PV
全自动膜厚检测仪ET-S8100A
膜厚仪EH100-X
红外光谱椭偏仪
广义光谱椭偏仪EGS01
膜厚仪EH100
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