块状材料测试

您的位置:首页 - 测试 - 块状材料测试

量拓科技以国际一流的椭偏仪作为主要的测试手段,针对块状材料,为客户提供专业的材料物性参数(折射率n、消光系数)检测和分析。

目前开展的纳米薄膜测试服务主要包括:

1. 固体材料(包括:介质、半导体、金属)测量:

  • 材料形态包括:
    • 致密结构的材料
    • 多孔结构的材料
  • 可表征的参数:
    • 单一波长(632.8nm)下的折射率n和消光系数k
    • 连续光谱范围(250 - 1000nm)的折射率n和消光系数k 、或介电函数e1和e2
    • 光滑表面的微粗糙度(nm量级的厚度)

2. 液体材料测量:

  • 液体材料632.8nm波长下的折射率n和消光系数k
  • 液体材料在连续光谱范围内(250 - 1000nm)的折射率n和消光系数k 、或介电函数e1和e2

3. 数据拟合分析:

  • 对于客户利用椭偏仪已经得到的数据,量拓科技可提供数据的拟合分析服务

 

 量拓科技已对来自全国各地的科研院所、大学和企业等的纳米薄膜样品进行了测试,典型样品包括:

  • 玻璃:包括光学玻璃、超白玻璃等
  • 平面不锈钢
  • 曲面不锈钢丝网
  • 热电材料
网站首页 | 友情链接 | 联系我们
服务热线:010-89535610/89535612/89541510 邮箱:info@ellitop.com 网址:www.ellitop.com
版权所有:2008-2016 量拓科技 京ICP备09112014 京公网安备110108004069号 京公网安备:11011202001662