教学椭偏仪

您的位置:首页 - 产品 - 教学椭偏仪

  • EX1 手动椭圆偏振测厚仪

       声明: EX1手动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)椭偏测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款手动教学仪器。 EX1 仪器适用于纳米薄膜的厚度测量、以及纳米薄膜的厚度和折射率测量。 EX1仪...

    详细>>>

  • EX2 自动椭圆偏振测厚仪

       EX2自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)椭偏测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。 EX2仪器适用于纳米薄膜的厚度测量,以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。 EX2...

    详细>>>

第1页/共1页 12/条 总记录数:2条
首页上页下页末页  跳至
网站首页 | 友情链接 | 联系我们
服务热线:010-89535610/89535612/89541510 邮箱:info@ellitop.com 网址:www.ellitop.com
版权所有:2008-2016 量拓科技 京ICP备09112014 京公网安备110108004069号 京公网安备:11011202001662