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量拓科技圆满结束“第一届全国椭圆偏振光谱学研讨会” 并向大会提出设立椭偏技术奖项
发布者:liangtuokeji     发布时间:2014-12-1 11:15:00    浏览次数:1316 次

 

由华中科技大学主办,华中科技大学机械科学与工程学院、数字制造装备与技术国家重点实验室承办的第一届全国椭圆偏振光谱学研讨会20141124日,在武汉圆满结束。这是我国椭偏研究领域在时隔30年之后再次召开的全国范围的学术活动,吸引了来自国内高校、科研院所和企事业单位的专家、学者共100余人参加,研讨内容涉及椭偏研究的所有领域,内容涵盖椭偏基础理论、椭偏仪器开发、椭偏测量应用等多个方面,充分展示了我国在椭偏研究领域所取得的最新进展与成果。会议筹备期间,量拓科技积极协助主办方邀请相关的椭偏专家参加会议,为大会的举办尽一份力。

    会上,量拓科技做了“偏测量技术在战略性新兴产业中的应用“的30分钟的邀请报告,报告中显示了量拓科技以国家战略需求为导向,通过发展椭偏测量技术整体解决方案为民族复兴主动担当的决心和能力。基于量拓科技近年来在产业方面对中国椭偏事业的实际推动作用和贡献,公司号召国内同行“团结一致,自主创新”共同推动椭偏技术和仪器在中国的发展和普及。会议期间,量拓科技已向大会主席和秘书长提出愿意资助设立椭偏技术奖项,鼓励中国在此领域做出杰出贡献的科技人员。

相关链接参加:http://mse.hust.edu.cn/article.php?id=14131

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